简介：集成电路测试是保证产品质量的重要手段，如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点。文章以实际测试过的电路80C196KC为例，详细地介绍了“硬件学习法”生成测试码点的硬件构成和测试向量的采集方法。为实现对80C196KC丰富指令及各种寻址方式的完全测试，给出了测试指令的序列结构和数据结构。在此基础上给出了生成测试向量、测试A／D转换器及直流、交流参数的测试方法.

简介：随着软件产品在社会生活中的广泛应用,软件产品的可靠性和用户的需求也在逐步提高。软件测试一般分为白盒测试和黑盒测试两种,而路径测试方法是白盒测试中最常用的方法。主要介绍了DD路-径和基本路径两种路径测试方法,并针对它们的测试用例的不同设计方法,分析了软件测试中的结构化测试方法在测试用例生成中的作用。

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简介：无线承载测试的应用取决于UE上行、下行无线接入能力以及UE支持的电信业务和承载业务。不同的电信业务和承载业务需要不同无线承载。对无线承载配置统一规定，确保了UE和不同网络之间的互操作性，解决了UE和不同网络之间的网络兼容性问题。无线接入承载测试就是来验证UE在建立业务时是否对应规定的无线承载。

简介：SMT生产是电子产品生产质量的基础，只有好的过程控制，好的工艺过程才能使产品的质量得到保障。在SMT的缺陷有很多例如立碑、桥连、虚焊、偏位等，在这里我只介绍一下作为过程工艺工程师如何对偏位缺陷的分析解决过。

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简介：主要介绍了当前用于检测组装后PCB的缺陷和故障的一些常见测试技术，并对未来的发展趋势进行了初步探讨。

简介：1977年，库珀和内特尔顿首先提出利用扩频技术实现cdma方案，但是没有进入实用。1993年Qualcomm公司提出的cdma技术正式成为技术标准(IS-95)，而后又进一步演进至cdma2000的系列标准。在国际标准中，cdma2000分为cdma1X和三载波方式3X两种，由于EV—DO及EV—DV技术的引入，

简介：主要介绍了当前用于检测组装后PCB的缺陷和故障的一些常见测试技术，并对未来的发展趋势进行了初步探讨。

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简介：1、引言随着城市里移动用户数目的飞速增加以及高层建筑越来越多，话务密度和覆盖要求也不断上升。另外，这些建筑物规模大、质量好，对移动通信信号有很强的屏蔽作用。在大型建筑物的低层、地下商场、地下停车场等环境下，移动通信信号弱，手机无法正常使用，形成了移动通信的盲区和阴影区；在中间楼层，由于来自周围不同基站信号的重叠，产生乒乓效应，手机频繁切换，甚至掉话，严重影响了手机的正常使用；

简介：电子测试和生产解决方案全球领导者Acculogic公司宣布，它将在SEMICONChina2010展会在其代理商良瑞科技公司的第2175号展台上展示多种最新技术。本次展将于2010年3月16-18日在上海新国际博览中心（SNIEC）举行。

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简介：一、EDGE技术简介EDGE（EnhancedDataRateforGSMEvolution)就是增强GSM数据速率的演进技术，是一种能够增强高速电路交换数据业务(HSCSD)和通用分组交换无线数据业务(GPRS)的单位时隙内数据吞吐量的技术。我们将增强型高速电路交换数据业务称为ECSD(EnhancedCircuit-SwitchedData)，将增强型通用分组交换无线数据业务称为EGPRS(EnhancedGPRS)。

简介：CMOS制程是现今集成电路产品所采用的主流制程。闩锁效应（Latch—up）是指CMOS器件中寄生硅控整流器（SCR）被触发导通后，所引发的正反馈过电流现象。过电流的持续增加将使集成电路产品烧毁.闩锁效应已成为cMOS集成电路在实际应用中主要失效的原因之一。在国际上，EI～JEDEC协会在1997年也制订出了半静态的闩锁效应测量标准，但只作为草案，并没有正式作为标准公布，我们国家在这方面还没有一个统一的测量标准，大家都是在JEDEC标；住的指导下进行测量。文章针对目前国际上通行的闩锁效应测试方法作一个简要的介绍和研究。

简介：时至今日，3G这个词汇已经深入到通信行业中。无论是国外已经商用的3G网络，还是国内老百姓街头巷尾谈论的3G话题，都充分体现出3G的大势所趋。随着全球商用3G网络和用户数量稳步增加，不同品牌、款式各异的新型终端不断面世。可以说，在国际市场上，3G已经逐渐成为了目前全球通信市场上的主流。

简介：目前的IT产业领域中，WLAN和VoIP是人们关注的热点，因此使用WLAN提供语音服务（VoWLAN）的终端设备也就应运而生。VoWLAN终端设备利用现有的WLAN网络实现无线的VoIP语音通话，用户可以通过VoWLAN终端设备在WLAN网络的覆盖范围内随时进行语音通话。这既发挥了IP网络成本低的特点，又使得用户获得WLAN带来的方便性。

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