简介:随着集成电路设计规模的不断增大,在系统芯片SoC(SystemonaChip)中嵌入大量的SRAM存储器的设计方法变得越来越重要。文中介绍了SRAM的典型故障类型和几种常用的测试方法,同时详细分析了嵌入式SRAM存储器内建自测试的实现原理以及几种改进的March算法,另外,以16k×32bitSRAM为例,给出了SRAM内建自测试的一种典型实现,并在Altera—EPIS25上实现.
简介:摘要随着社会科技的飞速发展,计算机以及嵌入式技术也得到了相应的完善,同时对低功耗嵌入式电子信息采集系统的研究也已成为我国计算机应用领域的重点研究内容。不论是在环境监测、电厂、水文等行业中,都对信息数据的采集有着一定的要求。本文围绕低功耗嵌入式电子信息采集系统的应用展开研究。