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  • 简介:摘要 本论文旨在通过研究陶瓷电容压力传感丝印工艺参数的优化,以提高陶瓷电容芯体泄漏的合格率。通过DOE实验设计、Minitab数据分析发现当速度为30mm/s,丝网膜厚为30um,丝网间隙为2mm,刮刀压力为60N时,产品泄露合格率达到99.25%,实验结果表明,优化后的工艺参数能够显著提高产品的泄漏合格率,提高生产效率和降低成本。

  • 标签:   陶瓷电容芯体  玻璃丝印  DOE实验  泄漏合格率