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  • 简介:设计了一种转塔式测试分选,用于极小型半导体器件的测试、打标、分选和编带。此设备处理速度快,检测分选效率高,对半导体器件损伤小,可以大规模用于极小型半导体器件的测试分选

  • 标签: CCD检测 FPGA 集成电路 测试分选机