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  • 简介:摘要:随着微电子技术的高速发展,以射频芯片和数字芯片为核心的微系统被广泛应用,电路集成度越来越高。该系统综合了电路VI曲线、电路可测试性设计和基于电路功能的测试方法,并探讨建立完善的专家知识库。

  • 标签: 故障检测 可测试性设计 专家知识库