简介：摘要:本文探讨了半导体材料四探针测试仪中的自动控制技术与图像识别技术的应用。在测试仪下位机电路设计方面，包括恒流源及电流数显电路、多路通道开关电路、电压放大及A/D转换电路以及单片机控制和上下位机通信电路的详细设计方法。随后，我们介绍了测试仪上位机软件的设计和图像识别技术的应用，包括软件界面及其使用方法，软件编程总述以及图像识别技术在测试仪上的具体应用，如探针位置定位与校准、自动参数设置以及异常检测与反馈控制。这些技术的应用提高了测试仪的自动化程度、准确性和可靠性，为半导体材料测试提供了强大的工具。
半导体材料四探针测试仪中的自动控制技术与图象识别技术的应用
