简介:摘要:本文综述了地质岩石检测中应用于矿物分析的关键技术,着重分析了矿物的识别、分类及定量分析方法。首先,介绍了利用光学显微镜技术进行矿物识别,包括偏光和反射光等技术的应用,以及这些光学特性对矿物分类的影响。随后,探讨了X射线衍射分析(XRD)和电子探针微区分析(EPMA),这些方法能够提供矿物的晶体结构和化学成分的详细信息。此外,本文还涉及了定量化学分析、激光诱导击穿光谱分析(LIBS)和同位素稀释质谱分析等定量方法的原理及其在岩石矿物分析中的应用。本研究旨在提供一种综合的技术框架,以帮助科研人员和工程师准确识别和分析地质样品中的矿物成分。