简介：由串联系统的概率模型导出一种预计结构初始广布疲劳损伤的概率模型，此模型是由单细节结构的疲劳寿命预测多细节结构在相同应力水平下产生多裂纹时的寿命。设计两种具有不同细节数的试验件，在随机谱和常幅谱作用下完成疲劳试验（m个细节开裂时的寿命）。单细节结构的寿命分别用疲劳额定值（DFR）法和试验第一条裂纹出现的寿命计算得到，然后用预计广布疲劳损伤发生的概率模型计算m个细节产生裂纹时的寿命，与试验结果比较，验证该模型的可靠性。
结构初始广布疲劳损伤预计的概率模型研究
