简介：摘要：白光干涉测量常用于高精度光学元件或其他精密元件的测量，近年来随着该领域研究的不断深入，尽管从技术和应用水平上白光干涉测量方法都达到了一定水平，但移动精度不够的问题依然极大限制了白光干涉测量精度的提升。而基于全视场的高精度外差白光干涉测量方法，能够有效解决线性位移精度不准确的问题。在对高精度白光干涉测量方法进行简要概述后，阐述了全视场外差高精度白光干涉测量方法，为高精度白光干涉测量方法进一步研究发展提供借鉴。
简介：摘要：我国科技水平的不断提升带动着社会经济的快速发展，当前现代测绘技术已广泛应用于测量领域。为了确保测量质量，促进测绘技术的深入发展，应分析现代测绘技术的应用情况，不断优化测量技术方案，以促进测量技术的持续发展，为社会和经济发展服务。现代测量技术在技术测量领域发挥重要的作用，其水平会影响建筑质量，现代测绘技术将广泛应用于平面测量和高程测量技术中，提高工程质量，延长建筑工程使用寿命。
高精度白光干涉测量方法
现代测绘技术在工程测量中的应用研究
