简介：摘要：在科技高速发展的今天，信息化水平高低对于现代战争而言已是至关重要，随之而来的，对电子设备的稳定性要求越来越高。高可靠集成电路已逐渐成为军事科技进步发展的关键点和核心。随着可靠性技术的发展,失效分析与失效机理研究已成为集成电路的重点研究领域之一。由于高可靠集成电路应用环境场合的特殊性及不可预见性，要求其在能够承受高强度机械冲击的同时，还要能适应极端环境下的温度、辐射、电磁等干扰，对此类产品的选用，更要在普通集成电路的筛选考核标准之上附加额外的考量。
集成电路失效分析中电测试的运用思考
