简介：试验在同一份处理好的试样中,采用低温蒸干排除锗的干扰,比色测定硅;采用全差示光度法测定锗,该方法适应于锗富集物中硅0.5%～10.0%、锗1.0%～40%含量范围的测定.
全差示光度法联测锗富集物中锗硅
