简介：摘要目的测量成人下颌磨牙后区大小并分析其与第三磨牙状态的关系。方法采用CBCT对86例成年骨性Ⅰ类均角患者根据第三磨牙状态进行分组，从三维方向对右侧下颌磨牙后间隙进行测量。在水平面上沿POL线(第一磨牙与第二磨牙颊尖连线)测量下颌平面(以及从下颌平面向根方2 mm的平面)处第二磨牙牙冠到升支前缘的最短距离。牙根层面的测量以釉牙骨质界为参考，在其根方2、4、6、8、10 mm的水平面上沿POL线测量第二磨牙牙根与下颌骨舌侧内层骨皮质的最短距离。结果无第三磨牙组、正常萌出组、水平阻生组、近中阻生组、垂直阻生组牙冠部的远移可用间隙均大于根部；在所有的测量平面上，正常萌出组和垂直阻生组的可利用间隙都不小于无第三磨牙组、水平阻生组、近中阻生组。结论成年骨性Ⅰ类均角患者的下颌磨牙远移，应更多地考虑下颌磨牙后舌侧骨皮质的影响，而参考CBCT比二维影像资料具有更高的准确性。另外，下颌第三磨牙的萌出、阻生状态也会对下颌磨牙远移产生不同影响。
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