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以小见大主流存储卡测试专题

作者：刘伟
学科：电子电信 > 通信与信息系统
创建时间：2004-09-19
出处：《数码：移动通讯》 2004年第9期

简介：随着数码产品的普及,作为数码产品所必须的配件,存储卡市场也获得了比较强劲的增长,目前,市场中的存储卡种类和品种繁多,产品质量也是良蓖不齐,甚至还不时出现假的存储卡,为大家选购存储卡千万了不小的麻烦,所以本次策主流存储卡专题,全面介绍了存储卡的起源及发展.在这个向导中,我们将带读者浏览到市场上的存储卡,让读者对它们有更多的了解.
标签：存储卡浏览向导测试数码产品配件

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数字集成电路测试矢量的生成

作者：刘伟
学科：电子电信 > 物理电子学
创建时间：2007-04-14
出处：《电子与封装》 2007年第4期

简介：电路的日益复杂和集成度的不断提高，使测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。文章主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成，并提出了改进其周期的办法，从而大大提高了故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真，验证了其正确性。
标签：随机测试序列硬件描述语言Verilog 同余伪随机序列线性反馈移位寄存器

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