基于N400的事件相关电位在测谎中的应用

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摘要 N400是事件相关电位中反映语言加工的成分。目前对N400应用于测谎的研究几乎都是在实验室的条件下进行的,尚未应用于司法实践。随着事件相关电位应用于测谎研究的深入,N400将可能作为其中的重要指标之一。就目前的研究结果来看,欺骗比诚实的N400更为负向。欺骗与诚实之间在潜伏期头皮电位分布上没有检验出显著差异。
机构地区 不详
出版日期 2010年03月13日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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