和田玉表面处理痕迹的检测与分析

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摘要 摘要:本研究主要针对和田玉表面处理痕迹的检测与分析,通过现代显微技术和光谱分析方法,对和田玉的表面处理痕迹进行系统的检测和分析。研究先基于显微观察,识别和田玉表面的基本特征及其可能的加工痕迹;利用红外光谱分析和X射线荧光光谱技术,进一步探讨了表面处理对和田玉表面物理和化学特性的影响。研究结果显示,通过综合这些技术手段可以有效地区分自然和人工处理痕迹,为和田玉的鉴定和评价提供科学依据。该研究还探讨了处理痕迹对和田玉价值的影响,为市场监管和消费者购买提供参考。本研究不仅增进了对和田玉表面处理技术的理解,也为和田玉的保护和合理利用提供了技术支持。
出处 《科技新时代》 2024年11期
出版日期 2024年08月01日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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