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微电子器件的可靠性测试与寿命预测

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摘要摘要：本文深入探讨了微电子器件的可靠性测试与寿命预测技术，旨在提高微电子产品的长期稳定性和可靠性。首先，文章分析了影响微电子器件可靠性的主要因素，包括材料特性、制造工艺、环境应力及工作应力等，并概述了典型的失效机理。随后，详细介绍了多种可靠性测试方法，包括加速应力测试、失效分析技术等，这些方法为评估微电子器件的可靠性提供了有力工具。

DOI ojzll3nk0d/8521346

作者乔惠敏白瑞玲宋艳芳赵涵

机构地区第一作者身份证号码：14012219990115082X

出处《中国科技信息》 2024年10期

关键词微电子器件，可靠性测试，寿命预测，失效机理，加速应力测试

分类 [建筑科学][建筑技术科学]

出版日期 2024年07月31日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

中国科技信息

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微电子器件，可靠性测试，寿命预测，失效机理，加速应力测试

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