多晶硅金属杂质ICP检测方法改进研究

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摘要 摘要:本研究旨在改进多晶硅金属杂质的ICP检测方法,以提高检测准确性和效率。通过优化样品预处理步骤和ICP检测条件,改进了传统方法中存在的一些局限性。实验结果表明,新方法在提高金属杂质检测灵敏度的同时,还能有效降低背景干扰,提高检测结果的可靠性。这一改进为多晶硅生产过程中的质量控制提供了可行性,并有望在其他金属杂质ICP检测领域推广应用。
出处 《科技新时代》 2024年3期
出版日期 2024年04月15日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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