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基于AD7734的多通道高精度测量电路设计

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摘要摘要：在复杂的高精度测量系统中，ADC芯片的选择和应用对最终数据采集质量的高低起着决定性作用。本文主要介绍了AD7734的芯片性能及外围电路设计，并通过STM32F407单片机进行软件配置以此来实现多通道高精度测量需求。最后以三通道高精度磁场测量应用场景为例进行系统设计验证。

DOI 0dp7zz9od2/7414393

作者赵林超

机构地区中国电子科技集团公司第三十八研究所合肥 230088

出处《中国科技信息》 2023年8期

关键词 AD7734 STM32F407 高精度测量

分类 [][]

出版日期 2023年07月26日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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AD7734 STM32F407 高精度测量

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