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HfF4样品的干法制备

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摘要 Hf的加速器质谱分析要求必须提供纯度极高的HfF4样品，以便获得足够多的HfF5^-离子流来进行测量。氧同位素等杂质会导致产生HfF3O^-，HfFO2^-等无测量价值的离子流，造成HfF5^-束流强度降低，使测量能力下降。“干法”制备技术有助于获得纯度高、无氧和水等杂质的HfF4样品，从而改善加速器质谱的测量效果。

DOI ojz0llprd5/678046

作者姜涛;杨君

机构地区不详

出处《中国工程物理研究院科技年报》 2008年1期

关键词干法制备样品加速器质谱测量能力质谱分析氧同位素

分类 [理学][物理]

出版日期 2008年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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