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SOC芯片DFT研究与设计

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摘要文章首先介绍了SOC系统的DFT设计背景和DFT的各种测试机理，包括基于功能的总线测试机理、基于边界扫描链的测试机理、基于插入扫描电路的测试机理以及基于存储器自测试的测试机理。然后以某专用SOC芯片为例提出了SOC电路的DFT系统构架设计和具体实现方法。主要包括：含有边界扫描BSD嵌入式处理器的边界扫描BSD设计，超过8条内嵌扫描链路的内部扫描SCAN设计，超过4个存储器硬IP的存储器自测试MBIST，以及基于嵌入式处理器总线的功能测试方法。最后提出了该SOC系统DFT设计的不足。

DOI ojzl2v5yd5/656870

作者杨兵;魏敬和;王国章;虞致国

机构地区不详

出处《电子与封装》 2009年1期

关键词系统芯片边界扫描设计存储器测试扫描链可测性设计

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2009年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）