透射电镜在纳米材料检测中的应用

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摘要 介绍了适用于粉体纳米材料透射电子显微镜样品制备的方法,采用了Fonnva广碳双层膜、超声分散等方法,使粉体纳米材料粒子的外部特征得到充分显示。
机构地区 不详
出处 《纳米科技》 2008年3期
出版日期 2008年03月13日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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