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存储器故障诊断算法的研究与实现

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摘要集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。文中从存储器的故障模型入手。着重描述了存储器常见的诊断算法。诊断算法和诊断策略要在诊断时间、故障覆盖率、面积开支之间进行权衡。因此要根据存储器的故障类型和测试需求来选择合适的诊断算法，才能达到比较满意的效果。

DOI rj8vqv3k40/484734

作者刘炎华;景为平

机构地区不详

出处《电子与封装》 2006年12期

关键词存储器测试故障模型诊断算法故障覆盖率

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2006年12月22日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）