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《现代材料动态》
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2004年8期
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SOI和应变Si的将来
SOI和应变Si的将来
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摘要
利用SOI衬底生长部分/完全耗尽结构的晶体管或用应变沟道提高器件性能可制备出高性能CMOS逻辑器件;这两种方法均可用于CMOS结构,也可单独用于提高器件性能。将应变用于器件沟道,可将沟道迁移率提高50%,从而提高了器件电流。SOI晶体管的好
DOI
354yey93j0/208052
作者
邓志杰
机构地区
不详
出处
《现代材料动态》
2004年8期
关键词
SOI
应变SI
晶体管
CMOS
FDSOI
分类
[一般工业技术][材料科学与工程]
出版日期
2004年08月18日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
现代材料动态
2004年8期
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