电子辐照导致CMOS图像传感器性能退化-中国期刊网

摘要对国产科学级4T-CMOS图像传感器进行电子辐照实验,考察了暗电流、饱和输出灰度值、暗信号非均匀性等参数,分析了器件的电子辐照效应损伤机理。实验结果显示,随着辐照总吸收剂量的增加,器件的饱和输出灰度值下降,并且暗电流显著增加。分析认为,器件的饱和输出灰度值退化机制与电离总剂量效应引起的退化物理机理一致,辐照使转移栅沟道电势势垒下降是饱和输出灰度值下降的主要原因,而暗电流的增长主要由浅槽隔离界面缺陷和体缺陷造成。10MeV电子辐照后暗电流退化表现出一定的偏置效应,这是由10MeV电子辐照引起的位移损伤所致。

1刘欢. CMOS图像传感器专利分析.,2022-07.
2程开富. 新型CMOS图像传感器及其应用.电路与系统,2003-06.
3翁柳青. 传感器性能退化与结构损伤响应异常判别的改进.职业技术教育学,2016-04.
4李豫东;文林;郭旗;何承发;周东;冯婕;张兴尧;于新. CMOS图像传感器饱和输出电压的辐照效应及损伤机理研究.物理,2017-04.
5何贝,李瑞梅（等同第一作者）. CMOS图像传感器技术发展综述.建筑技术科学,2020-02.
6雅小冰. 基于CMOS图像传感器的车牌图像采集系统.职业技术教育学,2008-02.
7魏博;肖文;王璠璟;丛琳;戎路. 基于FPGA的CMOS图像传感器的驱动开发.光学工程,2008-05.
8赵衡. 基于FPGA的CMOS图像传感器的方案开发.,2023-06.
9严明;李刚;杨少华;高帅;郭明安;李斌康. 基于CMOS图像传感器的高实时远程图像采集系统设计.物理,2016-04.
10龚学艺;黄思婕;曲荣升;陈凡胜. CMOS图像传感器时间域噪声分析及其应用研究.光学工程,2013-01.

电子辐照导致CMOS图像传感器性能退化

来源期刊

相关推荐

同分类资源更多

相关关键词

电子辐照导致CMOS图像传感器性能退化

来源期刊

相关推荐

同分类资源 更多

相关关键词

同分类资源更多