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基于FPGA的芯片引脚边缘检测系统的设计与实现

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摘要目的为了提高芯片封装外观质量检测速度并降低检测成本,基于FPGA开发芯片引脚边缘检测系统。方法根据FPGA并行处理高效率的特点,搭建FPGA＋SDRAM高性能硬件处理平台,利用QuartusII软件采用VerilogHDL硬件描述语言编写程序实现对芯片引脚进行边缘检测。结果该平台仅使用FPGA少量的逻辑资源实现对芯片引脚进行有效的边缘检测。结论该检测系统提高了工业应用中芯片引脚边缘检测的效率,同时可应用于ARM、DSP芯片封装外观质量检测。

DOI 2d3980wnd9/1657291

作者邓海涛;李建辉;吴捷;方逸裕;焉胜虎;陈耀文

机构地区不详

出处《中国体视学与图像分析》 2016年2期

关键词现场可编程门阵列技术集成电路边缘检测

分类 [医药卫生][临床医学]

出版日期 2016年02月12日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）