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《半导体信息》
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2007年3期
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我国测试技术现状及差距
我国测试技术现状及差距
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摘要
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DOI
34ge581wj9/1563907
作者
刘广荣
机构地区
不详
出处
《半导体信息》
2007年3期
关键词
测试技术
集成电路测试仪
小规模集成电路
测试系统
测试设备
测试方法
分类
[电子电信][物理电子学]
出版日期
2007年03月13日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
半导体信息
2007年3期
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