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我国测试技术现状及差距

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摘要未填写

DOI 34ge581wj9/1563907

作者刘广荣

机构地区不详

出处《半导体信息》 2007年3期

关键词测试技术集成电路测试仪小规模集成电路测试系统测试设备测试方法

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2007年03月13日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

半导体信息

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