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HPM对军用电子设备的损伤机理分析

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摘要针对HPM对军用电子设备的严重威胁,给出了HPM典型特征参数,重点分析了其对军用电子设备的损伤机理,包括HPM对电子设备的＂前门＂耦合效应、＂后门＂耦合效应,耦合能量的计算及损伤效应的分类,最后对军用电子设备的HPM防护给出了普适的防护措施。

DOI 54yvyz9340/1014452

作者陈卫;邓潘;程玉宝

机构地区不详

出处《中国电子科学研究院学报》 2011年5期

关键词 HPM 耦合效应损伤机理防护

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2011年05月15日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

中国电子科学研究院学报

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